物镜
近红外物镜2000nm
PEIR2000HR 20X/50X
近红外2000nm 兼容物镜
该物镜在2000nm 处保持80% 或更高的透过率。
在半导体器件故障分析中，可有效检测由于电流泄漏而导致的极弱发光。
使用从芯片背面穿过硅的红外光可以观察高度集成的多层半导体器件。
*可进行硅校正。请联系我们。
*停产→PEIR20X-2000HR（2022年3月）
后续型号为PEIR20X-2000HRS
*停产→PEIR50X-2000HR（2023年2月）
后续型号为PEIR50X-2000HRS
近红外2000nm 兼容物镜
该物镜在2000nm 处保持80% 或更高的透过率。
在半导体器件故障分析中，可有效检测由于电流泄漏而导致的极弱发光。
使用从芯片背面穿过硅的红外光可以观察高度集成的多层半导体器件。
*可进行硅校正。请联系我们。
*停产→PEIR20X-2000HR（2022年3月）
后续型号为PEIR20X-2000HRS
*停产→PEIR50X-2000HR（2023年2月）
后续型号为PEIR50X-2000HRS
| 模型 | PE 红外 20X 2000 HRS | PE 红外 50X 2000 HRS |
|---|---|---|
| 放大 | 20倍 | 50倍 |
| 工作距离 | 10毫米 | 10毫米 |
| 焦距 (f) | 10毫米 | 4毫米 |
| 不适用 | 0.6 | 0.7 |
| 解决 | 1.6μm | 1.4μm |
| 焦深 (±DF) | 2.1μm | 1.5μm |
| 透过率：1300nm | 80 及以上 | 80 及以上 |
| 透过率：2000nm | 80 及以上 | 80 及以上 |
| 重量 | 610克 | 560克 |
